直读光谱仪
直读光谱仪（OES）是经金属行业公认后可用于验证合金的元素组成和牌号识别的PMI（材料可靠性鉴别）技术，是固体金属材料分析领域较为灵敏、准确的检测器，可满足金属光谱分析各种复杂要求，可分析材质：Fe、Al、Cu、Ni、Co、Ti、Zn、Mg、Pb、Sn等基体。
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电感耦合等离子体光谱/质谱 （ICP-MS/OES)
电感耦合等离子体（英语：Inductively Coupled Plasma，缩写：ICP）是一种通过随时间变化的磁场电磁感应产生电流作为能量来源的等离子体源。
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二维广角X射线衍射仪(2D-WAXD)
1、透射式广角X射线衍射分析（XRD、WAXD）； 2、掠入射广角X射线衍射/散射分析（GI-WAXS）； 3、单晶X射线衍射分析（SC-XRD）
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单晶XRD
X-ray diffraction by a single crystal 利用单晶体对X射线的衍射效应来测定晶体结构实验方法。依照强度记录方式的不同，可分为照相法衍射仪法两类(见彩图多晶X射线衍射仪)。照相法使射线作用在胶片上，然后测量底片上射点的黑度来获得衍射线的强度数据，根据实验装置条件的差别，又分为多种方法。
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X射线全岩定量分析（XRD）
通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。
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变温X射线单晶衍射仪
通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。
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X射线多层衍射(XRD)
通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。
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圆二色光谱（CD）
圆二色光谱(简称CD)是应用最为广泛的测定蛋白质二级结构的方法，是研究稀溶液中蛋白质构象的一种快速、简单、较准确的方法。它可以在溶液状态下测定，较接近其生理状态。而且测定方法快速简便，对构象变化灵敏，所以它是目前研究蛋白质二级结构的主要手段之一，并已广泛应用于蛋白质的构象研究中。
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椭偏仪（ELL）
椭偏仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量仪器。由于测量精度高，适用于超薄膜，与样品非接触，对样品没有破坏且不需要真空，使得椭偏仪成为一种极具吸引力的测量仪器。
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紫外-可见光谱(UV-VIS/NIR)
UV-Vis-NIR紫外-可见-近红外, 紫外-可见光, 荧光, 光纤, 车尔尼-特纳, 近红外, 可见光, 光学
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稳态/瞬态荧光光谱仪（变温荧光光谱（低温/高温））
荧光光谱能够提供激发谱、发射谱、峰位、峰强度、量子产率、荧光寿命、荧光偏振度等信息，荧光分析定性和定量的基础。
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稳态/瞬态荧光光谱仪（变温衰减/寿命（常做低温））
荧光光谱能够提供激发谱、发射谱、峰位、峰强度、量子产率、荧光寿命、荧光偏振度等信息，荧光分析定性和定量的基础。
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稳态/瞬态荧光光谱仪（PL）
荧光光谱能够提供激发谱、发射谱、峰位、峰强度、量子产率、荧光寿命、荧光偏振度等信息，荧光分析定性和定量的基础。
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X射线荧光光谱（XRF）
X射线荧光光谱分析（X Ray Fluorescence），通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。仪器软件将探
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拉曼光谱仪（Raman）
拉曼光谱仪主要适用于研究物质成分的判定与确认。其结构简单、操作简便、测量快速高效准确，以低波数测量能力著称；采用共焦光路设计以获得更高分辨率，可对样品表面进行um级的微区检测，也可用此进行显微影像测量。
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傅里叶变换红外光谱（FTIR）
傅里叶变换红外光谱（Fourier Transform infrared spectroscopy，FTIR）。傅里叶红外光谱法是通过测量干涉图和对干涉图进行傅里叶变化的方法来测定红外光谱。可用来检定未知物的功能团、测定化学结构、观察化学反应历程、区别同分异构体、分析物质的纯度等。
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飞秒瞬态吸收光谱仪
飞秒瞬态吸收光谱仪是用于观测物质超快光物理/化学过程的科学仪器。其核心原理为泵浦-探测技术，通过激光激发样品后探测其瞬态吸收光谱变化，时间分辨率可达飞秒量级（最低3 fs），可覆盖紫外至近红外光谱范围（200-2400 nm）。该仪器可进行单波长动力学曲线绘制、三维瞬态吸收谱构建及多指数拟合分析，应用领域涵盖光化学、材料科学、生物物理学等多个学科。部分机型支持400 μs时间窗口扩展和自动光学对齐功能，检测灵敏度达到0.01mOD量级。
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高分辨XRD（HRXRD）
通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。
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XRD-Rocking(摇摆曲线）
通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。
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电化学
电化学是研究两类导体形成的带电界面现象及其上所发生的变化的科学。电和化学反应相互作用可通过电池来完成，也可利用高压静电放电来实现（如氧通过无声放电管转变为臭氧），二者统称电化学，后者为电化学的一个分支，称放电化学。由于放电化学有了专门的名称，因而，电化学往往专门指“电池的科学”。
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深能级瞬态谱仪
深能级瞬态谱仪（DLTS）是一种高灵敏度物理性能测试仪器，主要用于半导体材料及器件中的深能级杂质、缺陷及界面态检测。该仪器通过温度扫描生成DLTS谱，分析杂质类型、密度及分布，并支持电容、电流、FET分析等多种测试模式。技术参数涵盖脉冲电压±20.4V、灵敏度0.01fF及温度范围30K–450K。其应用领域包括半导体研究、光伏电池杂质分析，并配置于高校科研平台（如四川大学、北京大学）。
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