· 内容简介
1. 可做项目：质谱、面扫、深度剖析。
2. TOF-SIMS的数据的纵坐标是计数，是强度，不同离子的产额不同，产额高的谱峰强，并不代表含量高，简单说就是强度和含量没有什么直接关系；
· 结果展示
1、质谱+分析
质谱测试：只给出校正后的图片，常规离子列表只分析10个客户指定的离子，超出10个按数据处理收费。
质谱+数据处理：会给出校正后的图片和所有的离子谱峰归属列表。
2、面扫+分析
导出客户指定离子的 MAPPING, 所有离子统一用Thermal 颜色:右边的色标可以看出黑色是分布没有的区域，黄色白色是分布较多的区域；
3、深度剖析+数据分析
仪器型号1：TOF-SIMS 5 iontof--快递交替模式--深度剖析
深度曲线-相对应的3D图
仪器型号2：PHI Nanotof
